涂層測(cè)厚儀 AT-230
上海雙旭涂層測(cè)厚儀 AT-230 產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概述：上海雙旭涂層測(cè)厚儀 AT-230 為便攜式電磁/渦流雙原理測(cè)厚設(shè)備，適用于測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度及非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層厚度。廣泛用于汽車、造船、冶金、化工、五金加工、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等行業(yè)的涂層質(zhì)量控制。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)量原理：磁性法（Fe）、渦流法（NFe）雙模式自動(dòng)識(shí)別
- 測(cè)量范圍：0~1250μm（Fe）、0~1000μm（NFe）
- 分辨率：0.1μm（0~99.9μm），1μm（≥100μm）
- 示值誤差：±(3%H+1)μm（H為標(biāo)稱值）
- 最小曲率半徑：凸面 5mm，凹面 25mm
- 最小測(cè)量面積：直徑Φ10mm
- 基體最小厚度：Fe≥0.5mm，NFe≥0.3mm
- 顯示方式：128×64點(diǎn)陣LCD背光顯示屏
- 存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)500組測(cè)量數(shù)據(jù)（含時(shí)間、模式、數(shù)值）
- 電源：2節(jié)AA堿性電池或鎳氫充電電池（DC 3V）
- 工作溫度：-10℃~+40℃，濕度≤85%RH
- 尺寸/重量：約150×70×30mm，約200g（不含電池）
- 標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、校準(zhǔn)片組、探頭保護(hù)套、便攜軟包、說(shuō)明書(shū)、合格證
功能特點(diǎn)
AT-230 具備自動(dòng)識(shí)別基材類型（Fe/NFe）并切換測(cè)量模式，支持單次/連續(xù)測(cè)量，具有零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)和基本校準(zhǔn)功能。內(nèi)置數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能可顯示最大值、最小值、平均值及標(biāo)準(zhǔn)差，方便批量分析。探頭耐磨設(shè)計(jì)適應(yīng)頻繁現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，低功耗電路保證長(zhǎng)時(shí)間續(xù)航。
使用注意事項(xiàng)
- 測(cè)量前確認(rèn)基體材質(zhì)與所選模式匹配，磁性金屬選Fe模式，非磁性金屬選NFe模式，否則讀數(shù)無(wú)效。
- 被測(cè)表面須清潔、平整、無(wú)油污、氧化皮及明顯凹凸，否則影響精度。
- 探頭應(yīng)與被測(cè)面保持垂直，輕觸不施加過(guò)大壓力，避免探頭磨損及讀數(shù)漂移。
- 在曲面或狹小區(qū)域測(cè)量時(shí)，注意滿足最小曲率半徑與測(cè)量面積要求，必要時(shí)更換專用小探頭。
- 每次使用前建議進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)；更換基體或環(huán)境溫差大時(shí)應(yīng)重新校準(zhǔn)。
- 避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、高頻振動(dòng)及高溫高濕環(huán)境下使用，防止干擾或損壞元件。
- 長(zhǎng)期不用應(yīng)取出電池，防止漏液腐蝕內(nèi)部電路。
- 探頭為精密部件，禁止摔落、碰撞或自行拆卸，損壞需返廠維修。
- 測(cè)量數(shù)據(jù)僅作參考，需定期用標(biāo)準(zhǔn)厚度片驗(yàn)證儀器準(zhǔn)確性。
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